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Xslicer SMX-1010观察铝电解电容内部结构
应用文章
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本文介绍了一个运用Xslicer SMX-1010微焦点X射线检查装置检查铝电解电容内部结构，针对电容中的正负极能够清晰观察并测量极差，使用CT选配装置可观察杂质及破损缺陷，并精准测量正负极差。
2026-04-08
SMX-225CT FPD HR PLUS观察汽车塑料制动踏板内部结构
应用文章
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本文介绍运用inspeXio SMX-225CT FPD HR PLUS微焦点X射线CT系统观察汽车塑料制动踏板的内部结构。扫描汽车塑料制动踏板后通过岛津公司独有软件MPR立即显示CT截面图，观察内部孔隙缺陷及杂质。通过VG软件计算汽车塑料制动踏板的孔隙率和杂质率，呈现立体效果图。
2026-04-08
SMX-225CT FPD HR Plus观察高丽参内部结构
应用文章
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本文介绍运用inspeXio SMX-225CT FPD HR Plus微焦点X射线CT系统观察高丽参的内部结构。扫描后CT数据通过岛津HADI-S软件分析气孔面积比，使用VG软件观察高丽参孔隙及结晶体的状态分布，并测量孔隙率及结晶体百分比。
2026-04-08
SMX-225CT FPD HR Plus观察碳化硅材料内部结构
应用文章
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本文介绍运用inspeXio SMX-225CT FPD HR Plus微焦点X射线CT系统观察碳化硅材料的内部结构。扫描碳化硅材料后通过岛津公司独有软件MPR立即显示CT截面图，观察内部孔隙缺陷及杂质缺陷。通过VG软件计算碳化硅材料的孔隙率和杂质率，呈现立体效果图。
2026-04-08
缺陷在增材制造的AlSi12超高周疲劳中的影响
应用文章
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本文详细探讨了AlSi12合金的生产工艺、结构和性质之间的关系。研究旨在确定工艺变量对微观结构特征的影响。研究了从硬度、准静态特性到超高周疲劳（VHCF）特性的各种机械特性。利用内部缺陷的形态和微观结构特征，分析了HCF和VHCF区域的损伤过程。研究结果可用于开发一种累积方法，以控制目的微观结构所需的SLM工艺参数，以及计算残留孔隙度，从而正确预测疲劳载荷下的机械性能。
2026-04-08
室温和高温环境下的墨粉压缩试验
应用文章
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微压缩试验（MCT）机可通过获取微粒的断裂和压缩强度来评价墨粉强度。此外，内置高温系统可以加热样品，在实际温度条件下进行试验。本报告介绍了在室温（25℃）和高温环境（50℃）条件下对墨粉进行压缩试验的案例研究。
2026-04-08
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