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X射线荧光光谱法测定碳质材料中杂质元素
本文利用岛津XRF-1800波长色散X射线荧光光谱仪,采用玻璃熔片法制样,建立了测定工业硅生产用碳质材料中杂质元素的方法。碳质材料经灼烧除碳,杂质元素会富集至灰分中,称量一定量的灰分与专用熔剂按一定比例混合,高温熔融制备成玻璃片,用X荧光光谱仪进行测定。碳质材料的灰分与粘土化学成分类似,以粘土标样为基础建立工作曲线,工作曲线线性良好,相关系数r在0.9999以上,此方法可以准确测定碳质材料杂质元素化学成分,满足工业硅生产对碳质材料杂质成分的检测要求。
元素分析,波长色散型X射线荧光光谱仪
工程材料
应用报告
X射线荧光光谱法分析硫酸铵中的氮含量
化肥中的元素氮对作物生长起着非常重要的作用,有效的实施化肥在作物生长的不同阶段有着不同的作用,所施化肥的量的多少直接关系作物的生长。本文参考SNT 3810-2014《尿素和硫酸铵中氮含量测定X 射线荧光光谱法》标准,使用岛津XRF-1800建立了硫酸铵中氮元素的含量测定方法,该方法对含N量18.5%-21.2%的硫酸铵均可分析,相对偏差小于0.2%。
元素分析,波长色散型X射线荧光光谱仪
工程材料
应用报告
X射线荧光光谱法测定硅石中杂质元素
本文利用岛津XRF-1800波长色散X射线荧光光谱仪,采用玻璃熔片制样方法,测定了硅石中主要杂质元素。结果表明,Fe2O3、Al2O3、CaO、K2O、Na2O、MnO、TiO2等主要杂质元素标准曲线线性良好,相关系数r均在0.99以上。平行10次测定各组分RSD在10.0%以下,满足工业硅生产对硅石主要杂质成分的检测要求。
元素分析,波长色散型X射线荧光光谱仪
工程材料
应用报告
SMX-225CT FPD HR Plus观察白酒瓶内部结构
本文介绍运用inspeXio SMX-225CT FPD HR Plus微焦点X射线CT系统观察白酒瓶内部结构。使用CT扫描后通过岛津公司独有软件MPR立即显示CT截面图,观察内部结构。通过岛津独有技术——对感兴趣区域进行放大扫描,观察瓶盖结构及缺陷。通过VG软件观察杂质、间隙及孔隙缺陷并进行尺寸测量。使用VG软件缺陷模块计算白酒瓶中的孔隙率及白酒瓶盖中的杂质率,呈现孔隙及杂质分布立体效果图。
非破坏检查装置
工程材料
应用报告
ICP-MS测定塑料中Cd、Hg、Pb和总Cr含量
参考国家标准GB/T 38290-2019《塑料材料中镉含量的测定》、GB/T《38291-2019 塑料材料中铅含量的测定》、GB/T 38292-2019《塑料材料中汞含量的测定》,使用岛津电感耦合等离子体质谱仪(ICPMS-2030系列)测定了塑料中Cd、Cr、Hg和Pb四种重金属的含量。实验结果表明,四种元素方法检出限为0.83 μg/kg~4.59 μg/kg,塑料标准物质RMX-A019和RMX-A028测定结果与标准值一致,测定RSD小于3%,平行测定的RPD小于3%。该方法适用于塑料及其制品中Cd、Cr、Hg和Pb的检测。
元素分析
工程材料
应用报告
氮化铝陶瓷表面断裂韧度测试
本文参考了显微维氏硬度计的普遍测试方法,使用岛津岛津HMV-G31显微维氏硬度计对氮化铝陶瓷表面用维氏压头加载后通过显微影像测定其断裂韧度。试验表明,岛津HMV-G31显微维氏硬度计可以满足测试氮化铝陶瓷表面断裂韧度的需求,能获取可靠的断裂韧度。
材料试验机
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