本文参考GB/T 14849.5-2014《工业硅化学分析方法 第5部分:元素含量的测定 X 射线荧光光谱法》，利用岛津XRF-1800波长色散型X射线荧光光谱仪，采用粉末压片制样方法，测定工业硅中杂质元素含量。利用工业硅标准样品建立相应工作曲线，各杂质元素标准曲线线性良好，平行测定10次，各组分精度良好。方法适用于工业硅中铁、铝、钙、锰、镍、钛、铜、磷、镁、铬、钒、钴含量的测定，满足工业硅生产对杂质成分的检测需求。

本文将自制的铁矿石控制样品用粉末压片法制样，使用岛津MXF-N3 Plus多道同时X射线荧光光谱仪测量元素荧光X射线强度，建立TFe元素校准曲线，实现对铁矿石中铁元素的X射线荧光光谱分析。此法分析铁矿石样品，荧光分析值与化学值对比能够达到±0.30以内，满足矿山开采过程中快速分析的需求。

本文利用岛津Py-Screener系统建立了塑料制品中六氯丁二烯、五氯苯硫酚和异丙基化磷酸三苯酯的筛查检测方法。以浓度为100 mg/kg和1000mg/kg的固体标准品连续进样6次考察仪器的重复性，各组分峰面积RSD均小于5%，精密度良好。该方法称样后直接上机测定，无需使用有机溶剂，适用于塑料制品中六氯丁二烯、五氯苯硫酚和异丙基化磷酸三苯酯的筛查检测。

本文使用岛津GC-2010 Pro系统气相色谱仪，配置十通阀和FPD检测器系统建立了测定气体中总硫和形态硫的分析方法。本文参考国标GB/T 28727-2012，建立分析方法，方法具有重复性和灵敏度好，检出限低，分析时间短，和操作简单等优点。

钨是一种有色稀有金属，具有及重要的用途，一系列电子光学材料、特殊金属、与新型功能材料均需要使用独特性能的钨。本文按照《GB/T 10573-2020 有色金属丝拉伸方法》的要求，对直径为0.08mm与0.0025mm的两种极细钨丝进行拉伸测试。

本文介绍了岛津AGS-X电子万能试验机，遵循《GB/T 6569-2006 精细陶瓷弯曲强度试验》、《GB/T 10700-2006 精细陶瓷弹性模量试验方法弯曲法》、《ASTM C1161-2013室温下高级陶瓷抗弯强度标准试验方法》标准，测定精细陶瓷弯曲强度。本试验适用于精细陶瓷实施质量控制、产品性能调整等方面的应用。