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不同氩离子刻蚀模式对膜材料深度分析中元素化学态的影响
离子束溅射清洁技术经常用于去除暴露在空气中的样品表面的吸附污染,亦可用于对薄膜材料的深度分析。本文使用岛津X射线光电子能谱仪(XPS)仪器配备的多模式气体团簇离子源(GCIS)氩离子枪,针对不同类型材料进行清洁/深度分析,并对比了单氩离子模式刻蚀与团簇模式刻蚀对表面元素化学态的影响。结果表明,团簇氩离子刻蚀对材料的破坏更小,能够最大程度保留样品原始信息。
工程材料
应用报告
SMX-225CT FPD HR Plus观察电子陶瓷内部结构
本文介绍运用inspeXio SMX-225CT FPD HR Plus微焦点X射线CT系统观察5G电子陶瓷滤波器内部结构。使用CT扫描后通过岛津公司独有软件MPR立即显示CT截面图,观察内部结构。通过VG软件观察杂质、裂纹及孔隙缺陷并进行尺寸测量。使用VG软件缺陷模块计算电子陶瓷滤波器中的杂质率,呈现杂质分布立体效果图。
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工程材料
应用报告
ICPE-9820测定碳酸盐岩中氧化物的含量
参照标准T/CBMF 101-2021 《碳酸盐岩石化学分析方法 电感耦合等离子体原子发射光谱法》,采用湿法消解碳酸盐岩样品,利用岛津电感耦合等离子体发射光谱仪ICPE-9820测定了样品中多种氧化物的含量。分析结果表明,该方法各元素检出限为0.10~12 mg/kg;仪器精密度优良,测定RSD值小于4.00%;样品加标回收率为97.3~104%。该方法灵敏度高,重复性良好,适用于碳酸盐岩中氧化物含量的批量测定。
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工程材料
应用报告
ICP-OES法测定碳化硅粉末中的微量元素含量
参考GB/T 37254-2018《高纯碳化硅 微量元素的测定》,使用岛津ICPE-9820型电感耦合等离子体发射光谱仪(ICP-OES)分析了碳化硅中多种重金属元素的含量。分析结果显示,该方法各元素检出限为0.005~27.125 mg/kg;相对标准偏差(RSD)0.13%~5.51%,重复性良好,样品加标回收率为90.1%~106%,该方法适用于碳化硅中多元素含量的测定。
元素分析
工程材料
应用报告
ICPE-9820测定混凝土外加剂中氧化物的含量
参照标准《T/CBMF 102-2021 混凝土外加剂化学分析方法》,使用氢氟酸、高氯酸混合酸湿法消解样品,利用岛津ICPE-9820型电感耦合等离子体发射光谱仪(ICP-OES)轴向、径向双向观测测定了混凝土外加剂中氧化物含量。分析结果表明,该方法各元素检出限为0.51 mg/kg~92 mg/kg,加标回收率为95.3%~103%,双向观测可实现样品中高、低浓度元素的同步测定,该方法可适用于混凝土外加剂中元素氧化物含量的测定。
元素分析
工程材料
应用报告
ICPE-9820测定石膏及石膏制品中氧化物的含量
本文参考标准T/CBMF 100-2021《石膏及石膏制品化学分析方法 电感耦合等离子体原子发射光谱法》,采用湿法消解石膏及石膏制品样品,利用岛津电感耦合等离子体发射光谱仪ICPE-9820测定了样品中多种氧化物的含量。分析结果表明,各元素的方法检出限为0.12~21 mg/kg;仪器精密度优良,RSD值小于2.00%(n=3);样品加标回收率为94.4%-107%。该方法灵敏度高,重复性良好,适用于石膏及石膏制品中氧化物含量的批量测定。
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