GaAs等半导体材料受到了越来越多的关注，XPS技术在半导体材料分析上有着重要的应用。本文分析了高能Ag Lα光源在分析氮掺杂GaAs类材料上的优势，此外还介绍了其相对于其他高能光源的优势和可以增加采样深度的优点。

美国药典（United States Pharmacopeia；USP）和日本药典（Japanese Pharmacopoeia；JP）等规定了各种项目的分析需要进行纯度试验和定量试验等，以确保药品的质量。即使规定使用HPLC进行分析，但在很多时候，其中收载的分析条件因分析目的不同而进行多项试验，并要使用多个HPLC条件分别进行分析。在本文中，关于“USP43-NF38”中收载的布洛芬的纯度试验（类似物质）和定量试验的分析方法，分析条件变化及其允许范围见USP General ChapterChromatography（在本文中称为USP），分析速度根据其作了提升。此外

本文采用岛津Nexera LC-40 XS超高效液相色谱仪联合蒸发光散射检测器ELSD-LT Ⅲ，参考国家药典委员会发布的《青葙子配方颗粒》统一试点标准公示稿中的样品前处理过程及流动相条件，对青葙子配方颗粒特征图谱进行了分析。实验结果显示：空白溶液在9个特征峰位置处无明显色谱峰，不干扰特征图谱分析；供试品溶液连续进样5次，各特征峰保留时间和峰面积的RSD分别在0.102%~0.423%和0.242%~0.941%之间，仪器精密度良好；待测样品特征图谱中呈现出与参照物特征图谱对应的9个特征峰，各特征峰的相对保留时间与标准规定值的偏差不大于-3.66%，符合公示稿要求偏差在±10%之