红外显微镜用于分析小于100μm的微小异物。红外显微镜和FTIR一样，可以根据样品的特点，选择透射法、反射法和ATR法。其中，ATR法是使ATR棱镜与样品密切接触，检测样品表面的反射光的方法，可应用于直接分析附着在产品上的异物等场合。本文介绍了使用可以棱镜密切接触时进行可视观察的红外显微镜用金刚石ATR物镜DAOS，分析过滤器捕集的纤维状异物的案例。

本文采用茜素络合酮紫外分光光度法对牙膏中甲氟含量进行了测试。实验线性相关系数R2=0.99984，回收率84.5%～92.5%，RSD值为2.32%。结果表明，该方法简单、且灵敏度高，满足牙膏中氟含量测试的要求。

本文介绍运用inspeXio SMX-225CT FPD HR Plus微焦点X射线CT系统观察BGA芯片内部结构。使用VG软件虚拟出三维立体图，可观察绑定线断线。通过CT截面可观察芯片破损、锡球变形、锡球破损及锡球气泡等缺陷。使用VG软件缺陷模块计算BGA锡球中的气泡率，呈现气泡分布立体效果图。