近年来，在质量控制和研发方面，获得物质外表面的信息的需求不断增加，表面分析的重要性与日俱增。表面分析的方法有很多种，各种方法可分析的元素和分析深度存在差异，需要根据测定对象选择合适的方法。XPS（X射线光电子能谱分析法：X-ray Photoelectron Spectroscopy）是一种测量固体表面受到软X射线照射时发射的光电子能量的表面分析方法，可进行物质表面元素的定性和定量分析、化学键状态分析。XPS的分析深度为自表面10nm左右，可以获得物质外表面的化学状态信息。本报告中为您介绍使用XPS分析光学晶体上薄膜键合状态的案例。同时，为您介绍不同的分析方法所带来的元素定性、定量结果的差异。

本文利用岛津LCMS-8045三重四极杆液质联用系统分别建立了医用胶塞提取液中13种亚硝胺类化合物的测定方法。在该系统下，得到了相应检测限和定量限，且线性良好；定量限重复性实验结果显示，其保留时间和峰面积的相对标准偏差（RSD%）分别小于1%和5%，表明重复性良好，适合医用胶塞提取液中13种亚硝胺类化合物的快速准确检测。

本文建立了使用三重四极杆液质联用仪测定动物性食品中的庆大霉素残留量的方法。庆大霉素各组分在5 μg/L~1000 μg/L浓度范围内线性良好，其相关系数r均在0.999以上。在高、中、低三个浓度下，化合物的保留时间和峰面积的RSD%分别在0.09%~0.17%和1.63%~6.22%之间，仪器精密度良好。加标浓度为10~500 μg/kg的样品回收率在66.5% ~ 91.1%之间。该方法灵敏度高，分析时间短，结果准确，可用于动物性食品中庆大霉素残留量的准确定量检测。