扫描探针显微镜［SPM（AFM）］作为可以在大气中对纳米线进行高分辨率观察的工具，被广泛应用于纳米颗粒和软材料等领域。近年来，兼具特殊宏观结构和微观结构的材料问世，需要同时对两种结构进行观察。但传统的SPM广域观察存在像素数不足的问题，无法在图像放大时进行高精细分析。本文介绍了使用可实现8K高像素观察的SPM-Nanoa，同时兼顾广域观察和高精细分析的案例。

针对美国环保局（EPA）根据《有毒物质控制法案》（TSCA）对产品和物品中的异丙基化磷酸三苯酯的禁止要求，使用岛津EDX-LE plus能量色散型X射线荧光光谱仪对PE材质塑料中的P元素进行筛选分析，操作简单，方便快捷，无需化学前处理。

目前，已经确定了几种PFAS标准方法，如EPA方法1633、8327、533、537.1和OTM-45。所有这些方法都通过液相色谱/质谱（LC/MS）来分析PFAS化合物。然而，LC/MS并不适合分析所有的PFAS化合物，因为PFAS家族中的化学品具有不同的物理化学性质。例如，缓冲流动相中氟调聚物醇（FTOH）的电离抑制以及电喷雾电离中全氟烷基碘化物（PFI）和氟调聚物碘化物（FTI）的电离挑战已有报道1。因此，必须开发基于GC/MS的方法，作为LC/MS方法的补充，以提供一套完整的PFAS分析解决方案。GC/MS能够分析在LC/MS中难以电离的挥发性PFAS化合物。HS-SPME GC/MS