利用电池、IC芯片、内存等材料和物质电势的系统支撑着我们的日常生活。扫描探针显微镜（SPM／AFM）中经常采用开尔文探针（KPFM）法测定试样表面的电势，但无法在发生电化学反应的电解液中使用。在此报道中，作者在静电力显微镜（EFM）的基础上建立了新的EFM-Phase-ZXY测量方法，，成功实现电解液中静电力分布的可视化。

本次发布的IRSpirit是一款紧凑的FTIR，它结合了同类的SN比和分辨率（图1）。我们采用了独特的设计，可以双向放置，整机尺寸为390（W）×250（D）×210（H）mm，小于A3尺寸，因此可放置在狭窄空间。除了用于透射测定的附件，如液体池和KBr压片，还有一些功能，您可以使用现有的配件，如单次反射型ATR测定装置和漫反射测定设备，以及市售配件。此外，在进行IRSpirit系列的装置控制、数据解析的软件LabSolutions IR中，有一个专用程序（IR Pilot），能简便地执行4种测定和解析,如确认试验、异物解析、定量分析、膜厚测定。该功能仅根据画面的指示进

二维材料具有的简单二维结构、特有对称性等特点，使其具有独特的性能，近年来，人们对MoS2等二维材料的研究产生了较大兴趣。二维材料可应用于晶体管、传感器、电极、绝缘体等。在本报告中，使用X射线以及紫外光激发获得了二硫化钼（MoS2）价电子带的光电子能谱。利用Ar团簇离子进行谱图测定，验证了清洁前后样品谱图的差异。进行MoS2薄膜的表面分析，获取了表面性质和键合状态相关的有益信息。