为了增加光学元件的通光量，通常会在其表面镀上一层或多层折射率较低的薄膜，以消除元件表面的反射光，所镀的膜叫增透膜或减反膜。该类光学元件要求具有很低的反射率，对于测量仪器的测量精度要求非常高。本文使用UV3600对该类样品进行测试，实验结果表明，使用岛津UV3600可以快速有效测定该类样品的超低反射率，并且可以获得满意的实验结果。