本文参考GB/T 14849.5-2014《工业硅化学分析方法 第5部分:元素含量的测定 X 射线荧光光谱法》，利用岛津XRF-1800波长色散型X射线荧光光谱仪，采用粉末压片制样方法，测定多晶硅中杂质元素含量。利用工业硅标准样品建立相应工作曲线，各杂质元素标准曲线线性良好，平行测定10次，各杂质组分分析精度良好。方法适用于多晶硅中铁、铝、钙、锰、镍、钛、铜、磷、镁、铬、钒、钴含量的测定，满足多晶硅生产对杂质成分的检测需求。

本文采用岛津三重四极杆液质联用仪，建立了尿液中丁巴比妥、阿洛巴比妥和甲苯巴比妥含量测定的方法。结果显示，所有目标物在各自线性范围内，线性关系良好，所得校准曲线相关系数在0.9972以上，各校准点准确度在91.0%~110.7%之间，保留时间和浓度的相对标准偏差分别在0.03%和5.17%以内，加标回收率在95.1%~113.4%之间。

国家市场监督管理总局于2024年正式实施《分析仪器用色谱柱通用技术规范》（GB/T 43215-2024），首次对气相色谱柱的柱效、热稳定性、批间一致性等关键性能指标设定强制性国家标准，标志着行业从粗放式生产向高质量标准体系转型。在全球环境治理与工业产业升级转型的双重驱动下，气相色谱技术迎来了机遇与挑战并存的发展新阶段。岛津最新推出的Shimadzu-Solutions（以下简称“SS”）系列气相色谱柱，通过材料科学与工程设计的协同创新，不仅精准满足日益严格的行业法规要求，更针对中国市场的特殊需求提供了定制化解决方案。