在高浓度样品的分析中，如使用光电二极管阵列检测器的新数据分析方法—动态量程扩展功能i-DReC（Intelligent Dynamic Range Extension Calculator），即使检测器的信号处于饱和浓度区域，也可以利用光谱的相似性自动求取峰面积和峰高。当PDA检测器数据的峰值强度超过既定阈值时，i-DReC用自动位移至吸收较少的波长所获得的色谱求取峰面积和峰高，根据光谱数据来校正波长间的灵敏度比，计算目的波长的峰面积和峰高。i-DReC是使动态量程得到飞跃性扩展的新分析方法。对必须稀释的传统高浓度样品也可以无需稀释地进行分析，获得准确的定量值。

Rietveld 方法是一种晶体结构分析法，根据粉末X 射线的衍射图谱，不仅能够分析单组分样品，还能对多组分样品的晶体结构进行分析。此外，因为无需使用标准曲线便可进行定量分析，应用Rietveld 方法的各种类型的分析软件被用于研究和开发以及制造过程。Match!3 软件（Crystal Impact GbR）通过比较样品的X射线衍射图谱与数据库的图谱，来进行结构成分的确定（物相鉴定）。并且，能够通过与Rietveld 分析软件的FullProf（JuanRodriguez- Carajal、Laboratoire. Léon Brillouin）协同使用来进行晶体的结构分析和定

药物中的残留溶剂被定义为在原料药、添加剂或制剂的生产工艺中使用或产生的挥发性有机物，根据可能对人体健康造成影响的风险被分为一类至三类，受到严格管理。分析残留溶剂时主要采用第17次修订日本药局方和USP（美国药典）General Chapters Residual Solvents 中规定的顶空GC法。本文将介绍采用新型气相色谱仪Nexis GC-2030进行的药物残留溶剂分析。 E. Kobayashi, T. Murata