HJ 830-2017《环境空气 颗粒物中无机元素的测定 波长色散X射线荧光光谱法》

本文利用搭载高灵敏度、通用型脉冲放电氦离子化检测器（PDHID）的岛津Nexis GC-2030气相色谱仪，建立了高纯氢气中杂质的测定方法。该方法采用夹套吹扫型气体十通阀进样，利用多阀组合切割技术，放空大量氢气对检测的干扰，一次进样即可实现高纯氢中微量或痕量氧、氮、一氧化碳、甲烷、二氧化碳、乙烯、乙烷和乙炔等杂质的准确测定；方法稳定灵敏，除氧气外的其他杂质计算检出限＜10ppb；重复性良好，峰面积RSD%均＜3.5%。方法简便易操作，分析时间短，可广泛应用于化工企业、加氢站的高纯氢气质量检测。

二维材料具有的简单二维结构、特有对称性等特点，使其具有独特的性能，近年来，人们对MoS2等二维材料的研究产生了较大兴趣。二维材料可应用于晶体管、传感器、电极、绝缘体等。在本报告中，使用X射线以及紫外光激发获得了二硫化钼（MoS2）价电子带的光电子能谱。利用Ar团簇离子进行谱图测定，验证了清洁前后样品谱图的差异。进行MoS2薄膜的表面分析，获取了表面性质和键合状态相关的有益信息。