傅立叶红外光谱法是根据不同物质选择性的吸收红外光区的电磁辐射来进行结构分析，主要是对有机及高分子化合物进行定性分析。红外光谱法对样品的适用性相当广泛，同时还具有测试快速，操作方便，试样用量少等特点，广泛应用在各行各业。对于当今人们普遍关心的口罩质量问题，傅立叶红外光谱法可以快速检测口罩的材质，对口罩质量评价及打击假冒伪劣起到指导作用。

本文利用岛津XRF-1800波长色散X射线荧光光谱仪，采用玻璃熔片法制样，建立了测定工业硅生产用碳质材料中杂质元素的方法。碳质材料经灼烧除碳，杂质元素会富集至灰分中，称量一定量的灰分与专用熔剂按一定比例混合，高温熔融制备成玻璃片，用X荧光光谱仪进行测定。碳质材料的灰分与粘土化学成分类似，以粘土标样为基础建立工作曲线，工作曲线线性良好，相关系数r在0.9999以上，此方法可以准确测定碳质材料杂质元素化学成分，满足工业硅生产对碳质材料杂质成分的检测要求。

通过多个探针刺穿果酱样品来试验，此过程测量的是所有探头共同施加的总试验力，而不是单个探头施加的力。因此，它产生的数据具有更高的可重复性与稳定性，满足果酱口感质构的测试评价要求。