本文对Sn掺杂的C12A7: e-驻极体纳米粒子的表面化学性质进行了全面的X射线光电子能谱（XPS）表征，结果表明在掺杂的C12A7: e-纳米颗粒的表面上，Sn物种主要以Sn4 +的形式存在。通过单Ar+和Ar团簇离子刻蚀研究了元素随深度的分布情况。结果表明，Sn在表面富集，氩离子刻蚀会将部分Sn4+还原为金属态Sn，Ar团簇离子刻蚀对Sn4+的还原作用要弱于单Ar+刻蚀。刻蚀后元素Ca，Al，O的化学状态和分布没有明显变化。本研究对掺杂的C12A7: e-纳米粒子的化学状态分析提供了新颖的见解。

本文是使用岛津电子万能试验机AGSX 10KN，配合TRAPEZIUM LITE X 软件和180°剥离夹具，根据ISO29862：2007（JIS Z0237：2009）标准进行了胶带180°剥离试验的实例。试验表明，使用岛津AGS-X 电子万能试验机能够完全对应胶带的180°剥离试验。

随着农药种类限量的不断增加，如何快速、准确筛查出样品中的农残种类对于食品分析者尤为重要。在线凝胶色谱净化系统（GPC）可以有效去除样品中的蛋白质、脂肪及色素等大分子物质，缩短样品前处理时间；同时将净化后的样品大体积导入至GC-MS/MS，并结合多反应监测（MRM）采集方式进行分析，可有效去除基质干扰，同时其高通量分析可用于样品中农药残留的筛查工作。本文采用岛津公司的GPC-GC-MS/MS系统，在无需标准品的情况下，建立了筛查食品中非目标物农药残留的筛查方法。食品样品经简单前处理后，分别添加10种农残混标，采用所建立的MRM采集方法对目标组分进行灵敏度考察。在10 μg/L浓度下，食品样