电子元器件的失效及潜在的缺陷直接关系到电子产品的可靠性。本文使用岛津电子探针EPMA对电子元器件的铜合金部件不同位置处的肉眼可见变色异常失效进行了解析。结果显示部件表面不同的晶粒度和粗糙度以及腐蚀斑块和刮擦条痕导致局部出现明显的色差。这些局部的变色异常将会导致电子元器件出现导电不良甚至开路的失效问题。相对于常见的扫描电镜SEM+能谱仪EDS，微区分析仪器EPMA对于分析轻元素和微量元素具有更高的灵敏度，对于确认腐蚀介质和污染源能提供更准确的判断依据。

岩石中所含的矿物记录了岩石形成过程中的物理和化学信息。因此，通过详细研究元素的浓度分布，可以了解岩石的受热历史和成因。在这里，使用电子束显微分析仪EPMA™（EPMA-1720HT）对浅间山的火山岩进行了元素面分布特征分析。薄片试样由东京大学研究生院理学系研究科地球行星科学专业理学技术部技术负责人吉田英人先生提供。

本文介绍使用具有Trap功能的岛津顶空进样器HS-20Trap和GCMS-QP2010Ultra，以USP467RESIDUAL SOLVENTS的「PROCEDURE A」所规定的分析色谱柱分析药物残留溶剂试验中不明峰的实例。