在生物医药、天然产物、食品安全、环境毒理等领域，通常需要分离、分析多种目标物质，当各目标物极性差异很大时，则难以用一个方法完成对所有物质的分析。高极性和低极性目标物，在常规的色谱分离方案中，正如同鱼和熊掌，不可兼得。目前普遍的应对方案，是采用两种色谱分离方法，如亲水作用色谱柱和反相色谱柱，分别对应进行高极性物质和中低极性物质的分析。这样的处理方式，往往需要耗费双倍的前处理时间、分离分析时间，不利于提高分析效率；且会产生双份数据、部分数据存在交叉冗余的不确定性，定性分析难度高。 作为全球知名的实验室分析测试服务供应商，岛津致力于提供技术领先的仪器设备及全面可靠的综合解决方案。为了解决上述无法使用

XPS（X射线光电子能谱分析：X-ray Photoelectron Spectroscopy）是一种除能够对物质表面约10nm处存在的元素进行定性/定量分析外，还能够分析化学键状态的表面分析方法。物质的化学键状态是决定材料特性的重要因素，XPS被广泛运用于表面改性的分析、树脂劣化试验的评估，以及电子部件的故障分析等情况。为进行高准确度的化学键状态分析，需要具有高能量分辨率的谱图。本文将为大家介绍使用具有能量分辨率的KRATOS ULTRA2TM 测定的有机物的实例。

本文参考GB/T 14849.5-2014《工业硅化学分析方法 第5部分:元素含量的测定 X 射线荧光光谱法》，利用岛津XRF-1800波长色散型X射线荧光光谱仪，采用粉末压片制样方法，测定多晶硅中杂质元素含量。利用工业硅标准样品建立相应工作曲线，各杂质元素标准曲线线性良好，平行测定10次，各杂质组分分析精度良好。方法适用于多晶硅中铁、铝、钙、锰、镍、钛、铜、磷、镁、铬、钒、钴含量的测定，满足多晶硅生产对杂质成分的检测需求。