参考GB/T 37254-2018《高纯碳化硅 微量元素的测定》，使用岛津ICPE-9820型电感耦合等离子体发射光谱仪（ICP-OES）分析了碳化硅中多种重金属元素的含量。分析结果显示，该方法各元素检出限为0.005~27.125 mg/kg；相对标准偏差（RSD）0.13%~5.51%，重复性良好，样品加标回收率为90.1%~106%，该方法适用于碳化硅中多元素含量的测定。

本文参考美国药典USP对无机杂质元素的限量要求及USP对杂质元素的测定方法，利用电感耦合等离子体光谱法（ICP-AES）测定了口服药样品中的重金属元素和其它杂质元素的含量。实验结果表明各元素的相关系数 r＞0.9998，加标回收率在92.5%～110%之间，RSD小于5%。该方法操作简便、快速，样品前处理简单，可以满足美国药典对药品中杂质元素限量值的测定要求。

"自MS成像技术于二十世纪80年代前半期诞生以来，至今为止不断持续着技术改革，并被广泛运用于以新药研究和代谢产物研究领域为首的众多领域中。如今仍以提升灵敏度和空间分辨率、重现性等为目标，不断进行着技术改良。同时，也开发出多种离子化所需的基质，如何从这些基质中选出适用于检测目标化合物的基质成为重点。"