禁带宽度是半导体的一个重要特征参量，它直接影响半导体器件耐压和最高工作温度。本文使用岛津紫外可见分光光度计和积分球附件测试了二氧化钛（TiO2，锐钛矿）吸收光谱图，得到截止波长，根据公式计算得到该材料的禁带宽度。

采用离子阱-飞行时间串级质谱（LCMS-IT-TOF）对喷雾剂中由包装材料引入的2个杂质进行定性分析，获得负离子检测模式杂质的多级质谱数据。参照多级质谱检测结果并与对照品比较，确定杂质1为二丁基羟基甲苯（BHT）。根据文献检索结果，推测杂质2可能为两种抗氧化剂之一。在未获得相关对照品的情况下，根据两种抗氧化剂的化学结构，对其进行可能的裂解规律分析，并对照杂质2的多级碎片，判断杂质2的可能结构。

利用GC分析一氧化碳（CO）和二氧化碳（CO2）时，使用填充柱和TCD的方法被广泛采用。但是，在比TCD更高灵敏度地分析CO和CO2时，已有使用甲烷化反应器使CO和CO2甲烷化并用FID作为检测器的方法。本文中介绍在Nexis GC-2030上连接甲烷化反应器，通过FID分析含有CO、CO2等的标准气体的案例。