本文向您介绍使用Prominence-i 和高灵敏度荧光检测器RF-20Axs，对阴离子表面活性剂5种成分进行分析的示例。高灵敏度荧光检测器RF-20Axs配置具有冷却功能的温控池，可得到稳定的基线，并且无需浓缩样品便可直接注入HPLC，达到了领先世界的水平。

二氧化硅被广泛应用于半导体等电子部件的密封材料以及涂料填料等各种领域。如果在二氧化硅中包含异常的粗颗粒（异物或凝聚物），电子零部件会发生成形不良、绝缘不良、电气性能不良，而涂料会发生涂膜强度下降、涂敷不均等现象。评价二氧化硅的尺寸主要使用激光衍射式粒度分布测定装置（以下简称LD）和扫描电子显微镜（以下简称SEM）等。但是上述设备在测试过程中也存在一些问题，例如LD检测微量粗颗粒灵敏度较低，SEM的观察视野狭窄，导致检测时间过长，无法确保足够的测量数量，而且无法获得浓度信息等等。与之相比，动态图像分析方法可以在短时间内定量获得大量的颗粒图像，因此，适用于快速进行微量粗颗粒检测和浓度评价。动态颗粒

全氟烷基和多氟烷基物质（PFAS）在多个领域和行业得到了广泛的应用。但由于其高度稳定且难以降解的结构，这些物质易在环境中累积，由此引发了其对人类会造成影响的担忧。因此，美国环境保护署（EPA）和欧洲化学品管理局（ECHA）近期加强了对PFAS的监管。研究表明，PFAS会通过饮用水在人体内蓄积，并通过水源和土壤在牲畜、农产品及海产品中富集，可能对健康造成潜在的不利影响。1)这就要求我们不仅需要针对水体，还需针对土壤等基质相对复杂的样品，建立高度准确且可靠方法来检测其中的PFAS。 本文展示了一项稳健性研究，该研究在土壤基质中添加了30种PFAS（表1），并采用LCMS-8060RX对土壤基质中的