本文参考GB/T 14849.5-2014《工业硅化学分析方法 第5部分:元素含量的测定 X 射线荧光光谱法》，利用岛津XRF-1800波长色散型X射线荧光光谱仪，采用粉末压片制样方法，测定多晶硅中杂质元素含量。利用工业硅标准样品建立相应工作曲线，各杂质元素标准曲线线性良好，平行测定10次，各杂质组分分析精度良好。方法适用于多晶硅中铁、铝、钙、锰、镍、钛、铜、磷、镁、铬、钒、钴含量的测定，满足多晶硅生产对杂质成分的检测需求。

本文向您介绍使用岛津三重四极杆气相色谱质谱仪GCMS-TQ8040，对壬基酚进行分析的示例。通过优化MS/MS的分析条件，便能以高灵敏度选择性地检测GC-MS难以测定的4-NP的13种异构体。另外，在NP分析中，对于河水中含有的大量杂质，即便省略净化步骤，也不影响峰识别精度。

：本文介绍了一个运用inspeXio SMX-100CT观察高吸水性聚合物的实例。针对购买的一次性尿布的进行CT扫描，观察里面的结构。并对一次尿布吸水之前和吸水之后扫描进行对比，观察高吸水性聚合物吸水前和吸水后的状态。最后对高吸水性聚合物进行分析，发现高吸水性聚合物是由颗粒组成。