中国
分析检测仪器
关于岛津
联系我们
全球岛津
首页
产品/业务
行业应用
案例分享
新闻/活动
服务培训
服务培训
基础服务
LabTotal服务
培训中心
客服中心
咨询联络
岛津会员
产品询价
中国
分析检测仪器
首页
产品/业务
行业应用
案例分享
新闻/活动
服务培训
服务培训
基础服务
LabTotal服务
培训中心
客服中心
咨询联络
岛津会员
首页
/
行业应用
/
电子电器
/
半导体
/
傅立叶变换红外光谱仪测定半导体材料硅中的氧碳含量
返回列表
傅立叶变换红外光谱仪测定半导体材料硅中的氧碳含量
2017.08.29
类型: 应用报告
浏览:368
产品询价
电话咨询
授权代理商
在线客服
傅立叶变换红外光谱分析在半导体行业及其晶体材料结构、成分分析和杂质缺陷特性研究等方面起到了较大的作用。本文以实际测定为例,介绍了使用岛津IRAffinity-1测定半导体材料硅的透射率,并根据国标计算半导体材料硅中的氧碳含量。
预览文章
下载文章
相关推荐
使用Xslicer SMX-6000观察CPU的实例
本文介绍了一个运用Xslicer SMX-6000微焦点X射线检查装置的X射线透视和CT 功能,对CPU进行的实例观察。针对CPU透视放大后金线绑定现象进行检测。
查看详情 >>
SMX-225CT FPD HR Plus观察BGA芯片内部结构
本文介绍运用inspeXio SMX-225CT FPD HR Plus微焦点X射线CT系统观察BGA芯片内部结构。使用VG软件虚拟出三维立体图,可观察绑定线断线。通过CT截面可观察芯片破损、锡球变形、锡球破损及锡球气泡等缺陷。使用VG软件缺陷模块计算BGA锡球中的气泡率,呈现气泡分布立体效果图。
查看详情 >>
SMX-1000Plus观察PCB组装过程中BGA焊接缺陷
本文介绍了一个运用SMX-1000Plus微焦点X射线检查装置在PCB组装过程中BGA焊接缺陷,针对PCB组装中的BGA焊接能够清晰观察并发现各种缺陷。
查看详情 >>
联系岛津
产品询价
电话咨询
授权代理商
在线客服
本网站中关于产品性能、功能等信息的表述及对比范围,仅限于岛津自产和岛津合作的产品