电子元器件的失效及潜在的缺陷直接关系到电子产品的可靠性。本文使用岛津电子探针EPMA对电子元器件的铜合金部件不同位置处的肉眼可见变色异常失效进行了解析。结果显示部件表面不同的晶粒度和粗糙度以及腐蚀斑块和刮擦条痕导致局部出现明显的色差。这些局部的变色异常将会导致电子元器件出现导电不良甚至开路的失效问题。相对于常见的扫描电镜SEM+能谱仪EDS，微区分析仪器EPMA对于分析轻元素和微量元素具有更高的灵敏度，对于确认腐蚀介质和污染源能提供更准确的判断依据。

本文采用岛津GCMS-QP2020 NX气质联用仪建立了电子电气产品中多溴联苯和多溴联苯醚的检测方法。在50~1200 μg/L 浓度范围内，各组分线性良好，相关系数均在0.995以上，检出限在0.04 ~2.13 μg/L之间；取浓度为100 μg/L的标准溶液连续进样5次，各组分峰面积的相对标准偏差均小于6%，精密度良好。本方法操作简单，分析速度快，适用于电子电气产品中多溴联苯和多溴联苯醚的检测。

本文采用岛津GCMS-QP2020 NX气质联用仪和Frontier PY-3030D热裂解器，建立了电子电气产品中的红磷阻燃剂的检测方法。首先对红磷的裂解温度进行了摸索，得到最佳的裂解温度。进而对标准品重复进样6次，测定浓度的RSD小于8%，稳定性好。最后根据信噪比得到测定低限10mg/kg，本方法无需前处理，GCMS运行时间20 min，快速方便，可以适用于高通量样品的检测。