采用偏硼酸锂碱熔-ICP-AES法测定了石灰岩样品中硅酸盐相的Ca、Al、Mg、K、Ti、P和Si元素的主成分含量。实验结果表明，该方法线性相关系数良好(r>0.9999)，精密度高RSD

硫酸铜电镀液在半导体制造工艺中常用于电镀、刻蚀等关键环节，其所含有的有机污染物严重影响芯片等产品的性能，对硫酸铜电镀液中的总有机碳（TOC）含量进行精准检测是保障半导体产品质量的重要环节。本文使用总有机碳分析仪TOC-V WP，采用直接法测试了半导体用硫酸铜电镀液中总有机碳含量，该方法操作简便，分析速度快，重现性好，适用于半导体用硫酸铜电镀液中TOC含量测试，为半导体用硫酸铜电镀液中有机物污染控制提供了可靠的技术支持。

层析是化合物剖析中常用到的一种分离技术，而红外光谱分析被广泛应用在化合物剖析分析中。本文介绍了使用红外光谱仪和单次衰减全反射附件，快速测定层析馏分的红外光谱图。