GaAs等半导体材料受到了越来越多的关注，XPS技术在半导体材料分析上有着重要的应用。本文分析了高能Ag Lα光源在分析氮掺杂GaAs类材料上的优势，此外还介绍了其相对于其他高能光源的优势和可以增加采样深度的优点。

卷烟包装材料加入基质修正液，经顶空处理后，用气相色谱法进行定性和定量分析。

本文使用岛津HIC-SP离子色谱仪建立了离子色谱法测定水质中碘离子含量的方法。本方法采用氢氧根系统阴离子交换色谱柱，流动相为40 mmol/L氢氧化钾缓冲液，以电导检测器进行检测。碘离子在0.01-1.0 mg/L的浓度范围内标准曲线的线性相关系数r=0.9999。对碘离子浓度为0.05 mg/L、0.1 mg/L、0.5 mg/L的六个平行标准品进行分析，重复性结果（RSD%表示）碘离子在三个不同浓度下的保留时间RSD范围为0.039%~0.082%，峰面积RSD范围为0.59%~1.44%，结果的重复性良好。碘离子的检出限为0.003 mg/L，定量限为0.12 mg/L，具有较高的检测灵