电子仪器和IC 芯片的接触部分多会使用金（Au）、镍（Ni）、铜（Cu）的3 层电镀。通过荧光X 射线分析，能够非破坏性地测定上述电镀的附着量（膜厚）。本文将为大家介绍不使用标准样品，使用薄膜 FP 法（基本参数法）对Au、Ni、Cu 的各镀膜进行简便定量分析的实例。

有机硅具有良好的耐热性、耐化学性、低毒性等，可广泛用于电机和电子产品。此类有机硅产品中含有的低分子量环硅氧烷，会导致传导断层断层的故障。环硅氧烷是指由3 个或3 个以上的硅氧烷键合而成的化合物，以Dn（n 为硅氧烷的键合数）表示。低分子量环硅氧烷多指由 3 个（D3）~10 个（D10）键合而成的硅氧烷，D3 ~ D10 的总质量可作为其性能指标。气相经常用于分析低分子量环硅氧烷，但GC 方法有其自身的弊端。有机硅产品的提取物中含有很多高沸点成分，因此为了将高沸点成分从柱中排出，需要长时间高温烘烤，从而延长分析时间。此外，如果高沸点成分未充分除掉，则可能导致在下一次分析中检测出残留物。因此，本

六氟化硫（SF6）作为一种绝缘性能良好且稳定性较高的气体被广泛应用于各个领域，可用于气体绝缘变压器和断路器等电气设备中，也可作为示踪气体。除此之外，SF6 作为高效温室气体而被人们所认识，COP3 会议的京都议定书将其列为需控制排放的对象。传统分析方法采用高灵敏度分析的电子捕获检测器ECD，但该方法存在一些问题，如高浓度区域定量准确度，以及因使用放射性同位素而导致手续繁琐的问题。岛津公司的介质阻挡放电等离子体检测器BID 能够高灵敏度地检测所有成分。凭借独创的屏障放电技术，使其成为一种稳定性可与传统通用检测器媲美，且同时兼具高灵敏度的检测器。本应用主要介绍SF6 和SF6 分解产物的分析实例。

在薄膜和滤波器的材质确认和异物检查等中，使用FTIR进行测定。另一方面，使用紫外可见分光光度计能测试透射率和反射率特性，有时也对这些进行检查。例如，作为光学元件之一，长通滤波器具有比特定波长长的波长区域，透过率较高的特性。检查具有何种程度的透射率并进行确认。薄膜和滤波器的这些特点，在各行业广泛应用。 本次介绍使用LabSolutionsTM UV-Vis（以下，简称LabSolutions UV-Vis）的光谱评价功能测定长通滤波器的事例以及通过LabSolutions UV-Vis色彩计算对彩色玻璃纸的色彩测定进行解析的事例。

生活中为了方便使用，我们通常把零件加工成各种形状。人们越来越需要适当地保持圆形和厚度较薄的样品，以进行精确测定。在本期中，我们将展示可满足上述需求的圆柱形样品架和标准样品室用玻璃/薄膜架的应用实例。

电解质多层膜涂覆在透镜、滤光片等光学元件上，还可以应用于照相机和双筒望远镜等生活物品。此外，它还经常应用在光度计上，是一种非常重要的光学元件。本文，我们将介绍如何使用紫外可见分光光度计和可变角度测定装置对涂覆有电解质多层膜的滤光片的透射/ 反射光谱进行测定。