本文介绍了使用电子探针显微分析仪EPMA™（EPMA- 8050G）分析氢还原前的烧结矿的案例。

本文介绍了使用微焦X射线CT系统 inspeXio SMX-225CT FPD HR Plus，对外壳等的逆变器零部件进行观察、分析的案例。

微焦X射线检查装置可以在短时间内无损观察无线耳机中配d备的锂离子电池、扬声器、封装电路板等。透视成像加上CT成像，可以对检查对象的形状和位置等进行详细检查。X射线检查装置今后有望应用于制造业的产品质量等的各种场合。

本文介绍了使用微焦X射线检查装置Xslicer SMX- 6010，对逆变器零部件（IGBT模块）内部进行无损观察的案例。

直接还原铁化学成分稳定，杂质含量少，在电炉炼钢、转炉炼钢、粉末冶金等领域有大量应用。本文在放有熔剂坩埚的铂金坩埚中，对样品预氧化，然后熔融制成玻璃样片，在X射线荧光光谱仪上建立了钴内标分析直接还原铁的方法，并评价了方法的精密度。

本文应用基质辅助激光解吸电离飞行时间质谱仪（MALDI-TOF）对光刻胶样品进行分析，采用反-2-[3-(4-叔丁基苯基)-2-甲基-2-亚丙烯基]丙二腈（DCTB）基质，在正离子模式下进行数据采集，结果显示，在m/z 1-3600范围内，检测到一系列不同聚合度的质谱峰，相邻质谱峰平均相差约120 Da，与酚醛树脂单体-(C8H8O)n-分子量相符，聚合物质谱分布模式与酚醛树脂理论结构式相符。结果表明MALDI-TOF适用于光刻胶中酚醛树脂的分子量表征和合成情况确认，分析过程具有无需复杂前处理、分析速度快、分析成本低的特点。