本文参考GB/T 14849.5-2014《工业硅化学分析方法 第5部分:元素含量的测定 X 射线荧光光谱法》，利用岛津XRF-1800波长色散型X射线荧光光谱仪，采用粉末压片制样方法，测定多晶硅中杂质元素含量。利用工业硅标准样品建立相应工作曲线，各杂质元素标准曲线线性良好，平行测定10次，各杂质组分分析精度良好。方法适用于多晶硅中铁、铝、钙、锰、镍、钛、铜、磷、镁、铬、钒、钴含量的测定，满足多晶硅生产对杂质成分的检测需求。

钛硅分子筛催化剂属于新材料领域，是一种具有选择性特征的氧化还原催化剂，在选择氧化还原领域具有巨大的应用潜力。本方法采用钛硅分子筛样品与特定熔剂按比例混匀，高温熔融成玻璃熔片，用X射线荧光光谱法（XRF）测试了Fe2O3、TiO2、SiO2、Al2O3、CaO、MgO、P2O5、K2O和Na2O等元素含量，实验表明，该方法曲线线性良好，相关系数都在0.999以上，方法精度、准确度良好。

陶瓷主要是由粘性较高的高岭土、黏土、石英和长石等混合高温烧成而成，通过调整3者比例，可得到不同的抗电性能、耐热性能和机械性能的陶瓷。陶瓷成分组成复杂，有时加入如Sr Zr Zn等稀有元素来改变其性能，以达到SZP陶瓷的特殊用途；传统化学分析方法需要复杂的样品前处理，操作比较麻烦，性质接近的特殊元素的相互干扰无法掩蔽，而利用XRF荧光玻璃熔片法分析，样品处理简单方便，既可以消除矿物效应、粒度效应对结果的影响，又可以通过修正排除元素之间的干扰，提高了分析精度和准确度。本文使用岛津XRF-1800 波长色散X射线荧光光谱仪，建立了特殊陶瓷的分析方法，同时验证了方法的准确度和精密度。

本方法采用岛津PDA-8000光电直读光谱仪测定硅钢中C、Si、Mn、P、S、Al、N、 Cr、Ni、Cu等元素含量。采用定量工作曲线法，使用低合金钢、硅钢标准样品建立硅钢工作曲线，同时验证了方法精密度。

硅砂样品和合适的熔剂按一定比例混匀，加入脱模剂置于铂黄坩埚中，经高温熔融制成玻璃熔片，建立了使用多道同时型X射线荧光光谱仪（岛津公司MXF-N3 Plus）快速测试硅砂样品中SiO2、Fe2O3、Al2O3、CaO、MgO、TiO2、MnO、P2O5、K2O和Na2O等元素的分析方法。实验结果表明，高温熔片法能消除矿物效应、组织效应和颗粒度效应。该方法元素曲线线性良好，相关系数都在0.99以上，方法准确度和精度优于国标GB/T 3404-1982和GB/T 7143-2010的规定要求。

硅石样品和特定混合溶剂按合适比例混匀，加入合适脱模剂置于铂黄坩埚中，在高温熔融炉中熔融制成玻璃熔片，用X射线荧光光谱法（MXF-N3 Plus）测试硅石样品化学成分SiO2、Fe2O3、Al2O3、CaO、MgO、TiO2、MnO、P2O5、K2O、Na2O等元素，实验结果表明，该方法能消除矿物效应、组织效应和颗粒度效应对分析结果的影响，利用有含量梯度的硅石标样建立标准工作曲线，元素曲线线性良好，相关系数都在0.998以上，该分析方法的准确度和分析精度优于国标GB/T 3404-82和GB/T 7143-2010之规定要求。