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“从表面到界面”——原子力显微镜技术的新进展
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2026-04-08
超低温XPS技术在材料表面分析中的应用研究
应用文章
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XPS作为表面分析的重要技术之一，但在研究生物材料和锂硫电池等敏感体系时，常温高真空环境易导致样品脱水、分解或挥发，影响测试准确性。超低温附件通过将样品冷却至-150°C，显著提高了XPS在这些领域的适用性。本文介绍了超低温XPS在液体材料和锂硫电池等研究中的关键应用，并通过对比常温与低温测试结果，阐明了超低温XPS在抑制样品降解、捕捉亚稳态结构方面的优势，并展望了其在温度敏感材料表征中的发展前景
2026-04-08
扫描探针显微镜(SPM)用于金属玻璃薄膜材料的加工硬化行为表征
应用文章
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金属玻璃薄膜的原子无序结构使其表现出许多独特且优良的物理、化学和力学性能，如高强度、高韧性、高电阻率、高磁性等，可广泛应用于微机电系统器件。本文采用扫描探针显微镜SPM-9700HT结合Nano 3D Mapping软件测试了三种不同沉积衬底温度下制备的金属玻璃薄膜的粘附力，在一定程度上揭示了沉积衬底温度对金属玻璃薄膜加工硬化行为的影响，从而对金属玻璃薄膜制备工艺具有一定的指导意义。
2026-04-08
ICPMS-2030元素间校正（IEC）法分析蒙脱石散中砷含量
应用文章
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本文探索了在存在复杂双电荷离子干扰时，如何利用岛津ICPMS-2030软件元素间校正（IEC）功能快速实现干扰校正，获得准确的测定结果。实验表明，在存在多个元素的双电荷离子同时对砷存在干扰时，岛津软件自带的元素间校正（IEC）功能可以实现准确的干扰去除，获得满意的测定结果。
2026-04-08
岛津电子探针表征富硼矿物电气石的环带特征
应用文章
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电气石的化学成分比较宽泛，其阳离子可由多种元素构成，由于含有超轻元素B、F和OH等，在电子探针微区的测试领域一直是一个难点，特别是超轻元素B在电气石环带上分布特征的直观面分布表征还未见文献发表，甚至对于B的含量定量也有不少文献资料是以配比计算的方式给出。本文使用岛津电子探针直观地表征了电气石环带中包括B在内的各元素面分布特征，并对环带中的元素进行了微区定量，获得了理想的测试结果。
2026-04-08
炼铁用烧结矿分析
应用文章
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本文介绍了使用电子探针显微分析仪EPMA™（EPMA- 8050G）分析氢还原前的烧结矿的案例。
2026-04-08
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