中国
分析检测仪器
关于岛津
联系我们
全球岛津
首页
产品/业务
行业应用
案例分享
新闻/活动
服务培训
服务培训
基础服务
LabTotal服务
培训中心
客服中心
咨询联络
岛津会员
产品询价
中国
分析检测仪器
首页
产品/业务
行业应用
案例分享
新闻/活动
服务培训
服务培训
基础服务
LabTotal服务
培训中心
客服中心
咨询联络
岛津会员
首页
/
行业应用
/
教育/科研
/
X射线荧光粉末压片法测定多晶硅中杂质元素
返回列表
X射线荧光粉末压片法测定多晶硅中杂质元素
2024.04.22
类型: 应用报告
浏览:181
产品询价
电话咨询
授权代理商
在线客服
本文参考GB/T 14849.5-2014《工业硅化学分析方法 第5部分:元素含量的测定 X 射线荧光光谱法》,利用岛津XRF-1800波长色散型X射线荧光光谱仪,采用粉末压片制样方法,测定多晶硅中杂质元素含量。利用工业硅标准样品建立相应工作曲线,各杂质元素标准曲线线性良好,平行测定10次,各杂质组分分析精度良好。方法适用于多晶硅中铁、铝、钙、锰、镍、钛、铜、磷、镁、铬、钒、钴含量的测定,满足多晶硅生产对杂质成分的检测需求。
预览文章
下载文章
相关推荐
全二维GC×GC-qMS分析电子烟液中烟碱及禁用成分
本文采用全二维气相色谱质谱联用法(GC×GC-qMS)对三种电子烟烟液中烟碱及禁用成分进行分析,结果表明,全二维气相色谱较常规气相色谱具有更强大的分离能力,能够为复杂基质样品的测定提供准确的分析结果。
查看详情 >>
验证MS成像中的最佳基质涂覆方法
近年来,MS成像被广泛应用于原研药研究、代谢研究以及其他各种领域。在使用MALDI电离法的MS成像中,除了在众多的基质种类中选择适合目标化合物检测的基质之外,研究所选择基质的涂覆方法也极其重要。喷涂法可有效地从组织中萃取,但存在成分渗出、基质晶体颗粒大、不均匀的问题。另一方面,升华法可实现基质晶体的微小、均匀化,但无法有效地从组织中萃取。因此,开发了升华法与喷涂法相结合的两步升华法(专利:6153139)和使升华的基质再结晶的升华后再结晶法等。在本文中,我们将介绍基质种类和涂覆方法的差异造成的晶体尺寸和形状差异的观察结果,以及证实两步升华法在MS成像中的优势的示例。
查看详情 >>
金鸡颗粒中毛两面针素的定性测定
本文采用岛津LC-20ADXR高效液相色谱系统、LCMS-8040高效液相色谱串联质谱系统,建立了金鸡颗粒中毛两面针素的定性方法。金鸡颗粒经70%乙醇提取,Shim-pack GIST C18色谱柱分离,未检出毛两面针素;金鸡颗粒加标样品在RT=33.4 min检出色谱峰(330 nm),经与毛两面针素光谱图(190-400nm)比较,初步识别为毛两面针素。采用LCMS-8040对目标峰进行分析,SCAN+触发产物离子扫描模式,目标峰与毛两面针素一级、二级质谱图相似度极高,判断目标峰为毛两面针素。本文建立了基于液相色谱、UV光谱以及串联质谱的金鸡颗粒掺伪毛两面针的鉴别方法,该方法选择性强,灵敏
查看详情 >>
联系岛津
产品询价
电话咨询
授权代理商
在线客服
本网站中关于产品性能、功能等信息的表述及对比范围,仅限于岛津自产和岛津合作的产品