中国
分析检测仪器
关于岛津
联系我们
全球岛津
首页
产品/业务
行业应用
案例分享
新闻/活动
服务培训
服务培训
基础服务
LabTotal服务
培训中心
客服中心
咨询联络
岛津会员
产品询价
中国
分析检测仪器
首页
产品/业务
行业应用
案例分享
新闻/活动
服务培训
服务培训
基础服务
LabTotal服务
培训中心
客服中心
咨询联络
岛津会员
首页
/
行业应用
/
化工
/
X射线荧光粉末压片法测定多晶硅中杂质元素
返回列表
X射线荧光粉末压片法测定多晶硅中杂质元素
2024.04.22
类型: 应用报告
浏览:335
产品询价
电话咨询
授权代理商
在线客服
本文参考GB/T 14849.5-2014《工业硅化学分析方法 第5部分:元素含量的测定 X 射线荧光光谱法》,利用岛津XRF-1800波长色散型X射线荧光光谱仪,采用粉末压片制样方法,测定多晶硅中杂质元素含量。利用工业硅标准样品建立相应工作曲线,各杂质元素标准曲线线性良好,平行测定10次,各杂质组分分析精度良好。方法适用于多晶硅中铁、铝、钙、锰、镍、钛、铜、磷、镁、铬、钒、钴含量的测定,满足多晶硅生产对杂质成分的检测需求。
预览文章
下载文章
相关推荐
草酸-草酸铵体系浸提-ICP-MS法测定土壤有效态钼的含量
土壤中有效钼的含量是土壤普查的主要指标之一,本文参考青海省地方标准DB 63/T 1825-2020《土壤中有效钼的测定 草酸-草酸铵浸提-电感耦合等离子体质谱法》,使用岛津电感耦合等离子体质谱仪ICPMS-2030系列建立了草酸-草酸铵体系浸提测定土壤中有效态钼含量的方法。该方法优化了前处理过程,将滤液直接上机测试,缩短了前处理时间,操作简单。
查看详情 >>
Trap-Free 2DLC Q-TOF 定性分析宫缩抑制剂阿托西班中的多聚体杂质
本文采用岛津二维液相和四极杆飞行时间质谱联用仪Trap-Free 2DLC+LCMS-9030对多肽药物阿托西班中的单体和多聚体杂质进行定性分析。测试结果使用岛津Labsolutions Insight Explore软件对杂质的分子式进行预测,结果显示阿托西班单体、二聚体和三聚体的MS1的离子质荷比同理论值均小于1 mDa。使用Insight Explore软件中解卷积功能预测目标物的分子量,预测分子量和理论分子量的误差小于3 ppm。
查看详情 >>
岛津电子探针EPMA用于电气火灾残留物的分析
电气设备发生火灾时,在短路电流、电弧高温等作用下,接触处熔化冷却后形成不同特征的熔化痕迹。通过岛津电子探针EPMA对熔化冷却后形成的熔珠进行微观形貌的观察及成分的解析,可确定起火的原因是由于短路、过负荷还是其他原因引起的,为火灾调查提供科学的依据。本文结合实际案例说明类似微量物证分析的思路,展示了岛津电子探针 EPMA 在涉及到轻元素和超轻元素,以及含量较低的微量元素的测试能力,说明了对那些不能用一般的形态观察检验的微小、微量物证中,运用电子探针进行无损的定性和定量分析的实用性。
查看详情 >>
联系岛津
产品询价
电话咨询
授权代理商
在线客服
本网站中关于产品性能、功能等信息的表述及对比范围,仅限于岛津自产和岛津合作的产品