中国
分析检测仪器
关于岛津
联系我们
全球岛津
首页
产品/业务
行业应用
案例分享
新闻/活动
服务培训
服务培训
基础服务
LabTotal服务
培训中心
客服中心
咨询联络
岛津会员
产品询价
中国
分析检测仪器
首页
产品/业务
行业应用
案例分享
新闻/活动
服务培训
服务培训
基础服务
LabTotal服务
培训中心
客服中心
咨询联络
岛津会员
首页
/
行业应用
/
环境
/
半导体用硫酸铜电镀液中总有机碳含量分析
返回列表
半导体用硫酸铜电镀液中总有机碳含量分析
2025.08.19
类型: 应用报告
浏览:223
产品询价
电话咨询
授权代理商
在线客服
硫酸铜电镀液在半导体制造工艺中常用于电镀、刻蚀等关键环节,其所含有的有机污染物严重影响芯片等产品的性能,对硫酸铜电镀液中的总有机碳(TOC)含量进行精准检测是保障半导体产品质量的重要环节。本文使用
总有机碳分析仪
TOC-V WP,采用直接法测试了半导体用硫酸铜电镀液中总有机碳含量,该方法操作简便,分析速度快,重现性好,适用于半导体用硫酸铜电镀液中TOC含量测试,为半导体用硫酸铜电镀液中有机物污染控制提供了可靠的技术支持。
预览文章
下载文章
相关推荐
LC-ICP-MS直接测定血浆中Pt元素含量 (LC-ICP-MS)
采用样品无稀释、高效液相色谱仪直接进样,电感耦合等离子体质谱法(HPLC-ICP-MS)测定了血浆中Pt元素的含量。分析结果表明,线性范围在0.5~500 ng/mL范围内,线性r为0.9996,方法检出限0.16 ng/mL,考察 1、20和400 ng/mL的准确度范围为100.7 ~106.7%之间,重复性实验RSD<1.4%(n=15),2天测定的重现性RSD<2.9%,适用于生物样品采样量少且大批量分析。
查看详情 >>
基于岛津"Co-Sense for Impurities"的药剂杂质LC/MS/MS分析
在医药品等的杂质管理当中经常应用HPLC-UV法。但是,HPLC-UV 法在高效分离条件下不能适应MS 检测,难以进行杂质的定性分析。此时,如果使用岛津的“Co-Sense for Impurities”系统,则可以将来自色谱柱的洗脱液置换为挥发性流动相后进行LC/MS 分析。本文介绍将LC/MS/MS 分析应用于基于日本药典的HPLC-UV 法雷贝拉唑钠检测的实例。
查看详情 >>
利用TOC固体样品测定系统的 土壤・堆肥的总碳量测定
在土壤中,存在很多植物遗体等被微生物分解而形成的有机物。这些有机物质可良好地保持土壤的化学性质以及生物性质等的状态,因此,在植物的生长中发挥着重要作用,有助于提高农业等作物的生产率并使之保持稳定。此外,堆肥是有机物通过微生物分解而成的肥料,具有通过其多种多样的物质改善土壤状态并提高作物生长状态的功能。因此,作为农作物和植物稳定生长的指标,掌握土壤中所含有机碳的量是很有用的。总有机碳分析仪TOC-L和固体样品燃烧装置SSM-5000A是能测定固体样品中所含碳量的系统。本次,我们将介绍一个使用TOC固体样品测定系统测定土壤和堆肥中总碳量的事例。
查看详情 >>
联系岛津
产品询价
电话咨询
授权代理商
在线客服
本网站中关于产品性能、功能等信息的表述及对比范围,仅限于岛津自产和岛津合作的产品