本文使用岛津MXF-2400多道X射线荧光光谱仪分析氧化铝中SiO2、Fe2O3、Na2O等主要杂质成分，采用粉末压片法制样，以氧化铝行业标准样品建立校准曲线，曲线线性良好，正确度在可接受范围之内，相关系数r均在0.999以上。通过研磨方式及研磨时间实验，确认了合适的研磨方法。对精度进行了考察，同一样品重复测定多次，极差在允许范围之内，方法精度良好，满足GB/T 6609.30-2022《氧化铝化学分析方法和物理性能测定方法第30部分∶微量元素含量的测定 波长色散X射线荧光光谱法》对分析结果的要求。

参考标准：《中国药典》第四部《通则2322 汞、砷元素形态及价态测定法》。

本文使用岛津三重四极杆液质联用仪建立了普萘洛尔中N-亚硝基普萘洛尔杂质的测定方法。方法学实验表明，N-亚硝基普萘洛尔在0.1-20 ng/mL范围内线性良好，相关系数大于0.999；灵敏度高，定量限为0.03 ng/mL；0.2 ng/mL低浓度的标准品溶液，连续进样6次，保留时间RSD为 0.045%，峰面积的RSD为 1.68%，表明仪器精密度良好；N-亚硝基普萘洛尔在50%、100%和150%限度值加标回收率均大于93%、，相对标准偏差＜3.78%，方法准确可靠。该方法可为相关从业人员提供参考。