扫描探针显微镜（Scanning Probe Microscopy，SPM），其原理是利用一个细微的探针在样品表面扫描的同时，检测探针与样品之间相互作用的物理量，从而表征材料表面的形貌、粗糙度、电流电势分布及磁畴分布等。SPM在一定测试环境下，可以准确测量样品表面纳米级及以下的起伏。本文对放置在不同位置的具有相同配置的SPM-9700HT进行对比测试，证实了环境因素的确会对SPM-9700HT的测试产生一定的影响。