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SMX-225CT FPD HR Plus观察LGA芯片内部结构
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SMX-225CT FPD HR Plus观察LGA芯片内部结构
2023.11.27
类型: 应用报告
浏览:226
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本文介绍运用inspeXio SMX-225CT FPD HR Plus微焦点X射线CT系统观察LGA内部结构。使用CT扫描后通过岛津公司软件MPR立即显示CT截面图,观察内部结构。通过VG软件观察内部气泡缺陷。使用VG软件缺陷模块计算LGA中的气泡率,呈现气泡分布立体效果。
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