X射线光电子能谱（XPS）分析结合平行成像技术可以有效对材料表面缺陷处进行微区分析，本文选取了半导体材料的“金手指”及缺陷区域进行测量，获得了较理想的测试效果。

本文建立了一种使用岛津超高效液相色谱仪LC-30A和三重四极杆质谱仪LCMS-8050联用测定牛奶中丙酸诺龙和苯丙酸诺龙的方法。该方法在10 min内完成分离，校准曲线的相关系数均在0.999以上。对不同浓度的丙酸诺龙和苯丙酸诺龙的混合标准溶液各平行测试6次，目标化合物的保留时间和峰面积的相对标准偏差分别为0.024 % ~ 0.106 %和1.489 % ~ 5.217%，仪器精密度良好。对于不同浓度下基质加标回收率范围在87.60% ~ 106.80%之间。该方法可应用于牛奶中丙酸诺龙和苯丙酸诺龙残留的同时检测。

混合、加热和光照射可以使高分子材料的分子结构发生变化。这种变化可能在几秒内就结束，也可能缓慢地进行几小时。使用傅利叶变换红外光谱仪（FTIR）进行快速扫描，可以有效追踪高分子的化学反应及其变化。本文为您介绍使用岛津FTIR“IRTracer-100”的快速扫描功能，对紫外线固化树脂反应进行测定的方法。