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MXF-N3 plus 多道X射线荧光光谱仪测定氧化铝中镓及其它杂质
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MXF-N3 plus 多道X射线荧光光谱仪测定氧化铝中镓及其它杂质
2025.01.20
类型: 应用报告
浏览:188
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参考GB/T 6609.30-2022《氧化铝化学分析方法和物理性能测定方法 第30部分∶微量元素含量的测定 波长色散X射线荧光光谱法》,采用研磨压片制样方法将氧化铝粉用振动磨研磨至一定粒度,使用专用压片机压制成荧光分析用测试样片,于X射线荧光光谱仪上测定微量元素镓及其它杂质含量。对方法精度及准确度进行了考察,分析结果符合国家标准要求,方法可用于生产样品检测。
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