通过软件的荧光强度重叠校正功能扣除钠元素对氧元素的重叠干扰，以内部标准样品建立元素校准曲线，以元素质量分数根据相应公式计算电解质分子比。对分子比的测定精度进行了考察，分析结果符合行业标准YS/T 739-2010《铝电解质分子比及主要成分的测定 X 射线荧光光谱法》，测定结果可用于指导生产。