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X射线荧光光谱玻璃熔片法分析日用陶瓷粉中的主次成分
X射线荧光光谱玻璃熔片法分析日用陶瓷粉中的主次成分
参考《GB/T 4734-2022 日用陶瓷材料及制品化学分析方法》国标方法,将日用陶瓷粉高温灼烧处理后熔融制成玻璃熔片,使用岛津多道同时型X射线荧光光谱仪MXF-N3 Plus建立工作条件分析日用陶瓷粉中的主次成分含量。实验结果表明,分析结果全部优于标准要求。该方法操作简单,能够很好地消除矿物效应、组织效应和颗粒度效应,提高了日用陶瓷粉成分分析方法的准确度。
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