近年来，在质量控制和研发方面，获得物质外表面的信息的需求不断增加，表面分析的重要性与日俱增。表面分析的方法有很多种，各种方法可分析的元素和分析深度存在差异，需要根据测定对象选择合适的方法。XPS（X射线光电子能谱分析法：X-ray Photoelectron Spectroscopy）是一种测量固体表面受到软X射线照射时发射的光电子能量的表面分析方法，可进行物质表面元素的定性和定量分析、化学键状态分析。XPS的分析深度为自表面10nm左右，可以获得物质外表面的化学状态信息。本报告中为您介绍使用XPS分析光学晶体上薄膜键合状态的案例。同时，为您介绍不同的分析方法所带来的元素定性、定量结果的差异。

利用AOC-6000自动化样品前处理平台，可自动实现：皂化、甲酯化等前处理过程，样品无需处理即可完成分析，节省人力；避免接触剧毒物质三氟化硼，保护实验人员安全；自动化程度高，避免人员误差，结果重复性好； 利用三重四极杆气质联用仪可同时分析脂肪酸和反式脂肪酸，且采用MRM采集方式可减少色谱分离对结果的影响；

基质辅助激光解吸电离飞行时间质谱（MALDI-TOF MS）可以简单、快速获取从小分子到大分子等各种样品的分子量信息，因此，被广泛应用于合成及生物分子的研发和质控领域。在MALDI中，样品通过与被称为基质的离子化辅助剂溶液混合进行配制。基质主要是低分子量有机化合物，为了确保高效的解吸和电离，需要根据样品类型的不同选择最佳的基质。例如，测定多肽时选择α-氰基-4-羟基肉桂酸，测定蛋白质时选择芥子酸。