本文参考GB/T 14849.5-2014《工业硅化学分析方法 第5部分:元素含量的测定 X 射线荧光光谱法》，利用岛津XRF-1800波长色散型X射线荧光光谱仪，采用粉末压片制样方法，测定多晶硅中杂质元素含量。利用工业硅标准样品建立相应工作曲线，各杂质元素标准曲线线性良好，平行测定10次，各杂质组分分析精度良好。方法适用于多晶硅中铁、铝、钙、锰、镍、钛、铜、磷、镁、铬、钒、钴含量的测定，满足多晶硅生产对杂质成分的检测需求。

重金属污染极易对生态系统产生危害，通过食物链富集直接或间接影响人类健康。我国自2013年启动《大气污染防治行动计划》，2015年启动《水污染防治行动计划》和2016年启动《土壤污染防治行动计划》的“三大计划”，让老百姓们都十分关注环境重金属污染，从“史上最严环保法”出台后，实际上业内已经有所变化，大家都在寻找更合适的解决方案。直到今天，重金属污染仍然是亟待解决的环境问题之一。国务院印发的《“十三五”生态环境保护规划》明确表示，重金属污染防治依然是首要任务之一。ICP-MS技术提供了最低的检出限、最宽的动态线性范围、干扰最少

本文使用岛津GCMS-QP2020 NX气质联用仪建立了婴儿配方乳粉中4种植物甾醇的测定方法。样品经酯化萃取分离、氮吹浓缩后上机测试，分析结果表明：4种甾醇在1~200 µg/mL范围内标准曲线均线性良好，线性相关系数大于0.997。各组分的检出限为0.07-0.157 mg/kg。空白样品中以6.25 和100 mg/kg加标，平均回收率在95.7~113.5 %之间。该方法灵敏度高，重复性好，可适用于婴儿配方乳粉中甾醇成分的测试。