原位分析的重要性不言而喻，可以避免仪器操作或样品处理等过程带来的不确定性。通过岛津AXIS Supra+原位UPS-XPS团簇深度剖析技术对OLED薄膜材料进行了研究，得到了材料的表面组成、功函数、HOMO能带等信息，相关信息可进一步用于材料能带结构等的研究。

随着我国经济的高速发展，现代生活中公共卫生问题如环境污染等日益突出，需要对环境样品中一些特定的化合物进行分析检测以解决相应问题，这些目标分析物的浓度往往多为微量甚至痕量，样品基质也十分复杂，需要对样品进行前处理操作。传统的样品前处理方法主要有液液萃取（LLE）、固相萃取（SPE）、QuEChERs法等，在这些前处理方法中，固相萃取以其在净化和富集方面的优势被广泛使用。固相萃取可分为离线固相萃取和在线固相萃取两种操作方式。离线固相萃取萃取柱填料选择丰富、规格多样及灵活性好，但存在萃取柱单次使用、步骤繁琐、大样本量操作时费时费力、误差大等缺点。与离线固相萃取相比，在线固相萃取技术萃取柱可重复使用、

硅砂样品和特定混合溶剂按合适比例混匀，加入合适脱模剂置于铂黄坩埚中，在高温熔融炉中熔融制成玻璃熔片，用X射线荧光光谱法（XRF）测试硅砂主成分SiO2、Fe2O3、Al2O3、CaO、MgO、TiO2、MnO、P2O5、K2O、Na2O等元素，实验结果表明，该方法能消除矿物效应、组织效应和颗粒度效应对分析结果的影响，利用有含量梯度的硅石标样建立标准工作曲线，元素曲线线性良好，相关系数都在0.997以上，该分析方法的准确度和分析精度都能够达到国标GB/T 3404-82和GB/T 7143-2010规定要求。