本文参考GB/T 14849.5-2014《工业硅化学分析方法 第5部分:元素含量的测定 X 射线荧光光谱法》，利用岛津XRF-1800波长色散型X射线荧光光谱仪，采用粉末压片制样方法，测定工业硅中杂质元素含量。利用工业硅标准样品建立相应工作曲线，各杂质元素标准曲线线性良好，平行测定10次，各组分精度良好。方法适用于工业硅中铁、铝、钙、锰、镍、钛、铜、磷、镁、铬、钒、钴含量的测定，满足工业硅生产对杂质成分的检测需求。

本文建立了一种使用岛津Prominence GPC系统对玻璃酸钠的重均分子量及分子量分布进行测定。本方法采用聚苯乙烯硫酸酯钠盐作为标准品，由GPC软将进行普适校正计算，建立相对分子量校准曲线，采用线性回归方程。对未知样品1和2进行重均分子量及分子量分布进行测定，考察数均分子量及多分散系数的重现性，结果表明两个样品重复分析两次的△Mn均小于其rm值，△D均小于其rD值。本方法可用于快速、准确测定玻璃酸钠分子量。

锂电池极片是锂电池的关键构件之一，极片质量好坏直接影响到锂电池的容量、内阻、循环寿命以及安全性能。本文以某锂电池生产厂家送检的正极极片为例，利用岛津场发射型电子探针显微分析仪，通过面分析确定了含Fe杂物的精确位置；并对该杂物进行微区成分定性分析，通过与常规区域成分定性分析结果比较，明确了元素组成差异，分析结果可为排查杂物引入工艺环节提供指导。