电子仪器和IC 芯片的接触部分多会使用金（Au）、镍（Ni）、铜（Cu）的3 层电镀。通过荧光X 射线分析，能够非破坏性地测定上述电镀的附着量（膜厚）。本文将为大家介绍不使用标准样品，使用薄膜 FP 法（基本参数法）对Au、Ni、Cu 的各镀膜进行简便定量分析的实例。

本文参考《锂离子电池材料中锂含量的测定方法 原子吸收光谱法》（征求意见3稿），使用岛津AA-7800火焰原子吸收分光光度计自吸收扣背景法测定了锂电池正极材料磷酸铁锂、镍钴锰酸锂、钴酸锂中锂元素含量。实验结果表明，该方法标准曲线线性良好，检出限低，准确度高，重复性好，适用于锂电池正极材料中锂元素含量的测定。

本文利用岛津超高效液相色谱-四极杆飞行时间串联质谱仪，结合《化妆品风险物质QTOF质谱库》和《法医毒物和农药QTOF数据库》建立了一种中成药中非法添加物质快速筛查的方法，可对中成药样品中的非法添加物质进行定性分析。对某中成药样本进行了非法添加物质筛查，结果显示，在该样本中共筛查出2种非法添加物质，其二级碎片与数据库匹配度高。使用标准物质进一步确证，保留时间一致。该方法可快速完成中成药中非法添加物质的定性筛查，结果准确可靠。