离型膜表面涂布的离型剂，可以有效降低离型膜的剥离力。离型膜中离型剂的涂布量，影响到离型膜的离型效果、生产成本、涂布质量等。能量色散型X射线荧光光谱仪，通过分析离型膜表面涂布的含硅离型剂中的硅的强度，计算得到含硅离型剂涂布量与硅测试强度的曲线，可用于离型膜表面离型剂涂布量的分析。该分析方法具有分析灵敏度高，分析数据稳定，分析准确度好的优点，分析过程无损快速，分析样品无需特别处理，适用于生产质量控制分析。

通常认为紫外线（Ultraviolet Radiation：UV）会导致皮肤老化、色斑、雀斑和皮肤癌。因此，阻隔紫外线商品的需求很大，各个厂商都在开发号称可以阻隔紫外线的商品，为了表示这些产品阻隔紫外线的程度指标（数值），各国的标准中都规定了紫外线防护系数UPF（Ultraviolet Protection Factor）。在本文中，为了确认是否存在影响UPF值的荧光物质，我们使用荧光分光光度计RF-6000作了荧光测定。此外，还使用紫外可见分光光度计UV-2600i以及LabSolutions UV-Vis UPF软件计算口罩和帽子等各商品的UPF值并对其作了比较。

参考标准YY/T 1507.3-2016 《外科植入物用超高分子量聚乙烯粉料中杂质元素的测定 第3部分：ICP-MS法测定钙（Ca）元素含量》和YY/T 1507.4-2016 《外科植入物用超高分子量聚乙烯粉料中杂质元素的测定 第4部分：ICP-MS法测定铝（Al）元素含量》，使用岛津ICPMS-2030系列电感耦合等离子体质谱仪测定了外科植入物用超高分子量聚乙烯中杂质元素Al和Ca的含量。分析结果表明：Al和Ca元素的标准曲线相关系数r分别为0.99999和0.99998，方法检出限分别为0.03和0.2 mg/kg，不同浓度样品加标回收率为100~102%，样品6次测定RSD值小于1.7