ICH Q3D中设定了24种可能存在毒性的元素的每日允许最大暴露量（PDE），需要使用合适的试验方法对含量进行监控。因此，“2.66 元素杂质”纳入日本药典，”元素杂质——限值“和”元素杂质——测定方法“纳入美国药典，“5.20 元素杂质”和“2.4.20 元素杂质的测定”纳入欧洲药典，同时规定电感耦合等离子体质谱法（ICP-MS）作为分析方法。

"在药物的质量管理中，次品的产生原因分析是一项十分重要的工作。虽然异物和污染物的大小和形状不同，分析方法也存在差异，但在分析药物片剂的缺陷部位时多会用到红外显微镜。本文使用自动缺陷分析系统AIM-9000对药物片剂表面的异物进行了定性分析，以下将为大家进行介绍。"

XPS（X射线光电子能谱法：X-ray Photoelectron Spectroscopy）作为一种表面分析方法，除了对材料表面上约10 nm处存在的元素进行定性和定量分析外，还可以分析样品表面元素化学结合的状态。ABS树脂（由丙烯腈、丁二烯、苯乙烯构成的树脂）被广泛用于家电产品和汽车零部件、日用品等各种常见的产品。众所周知，长时间暴露在日光（紫外线：UV）下会导致表面降解，因此解析其机制是非常有必要的。本文中介绍了使用XPS技术对被UV照射不同时间的ABS树脂样品进行表征测试，评价UV照射时间与化学结合状态之间关系的实例。