工业硅又称准金属硅，是本世纪六十年代中期出现的一个商品名称。岛津利用丰富的仪器产品线，从主、杂质元素测试、粒度分布、形貌和粗糙度等方面应对工业硅性能测试，其中涉及ICP-OES、ICP-MS、EDX、XRF、SALD、SPM 等多机种仪器测定。为了满足客户需求和行业发展趋势，岛津公司推出了《工业制造行业解决方案-非金属材料_工业硅应用篇》，希望能对该领域的检测工作有所帮助。

由原位混合和共混两种方法制得磺化聚醚醚酮（SPEEK）和聚苯并咪唑（PBI）共混膜。用FTIR显微红外分析共混膜中两种聚合物的混合状态，分析结果表明用原位混合方法制得的膜形成了盐结构，而用共混方法并未得到此结构，并通过改变一系列光阑尺寸大小进行分析，得到PBI与SPEEK在共混膜中的分布状况。

本文介绍了一个运用Xslicer SMX-6000微焦点X射线检查装置的X射线透视和CT 功能，对CPU进行的实例观察。针对CPU透视放大后金线绑定现象进行检测。