代谢组学主要研究的是作为各种代谢路径的底物和产物的小分子代谢物，本文使用岛津公司三重四极杆串级气质联用仪并结合代谢物谱库，成功分析了发酵的芽胞杆菌胞内代谢物。

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本文介绍了一个运用SMX-6000微焦点X射线检查装置的X射线透视及CT对碳化硅MOSFET的实例观察。针对碳化硅MOSFET进行透视，观察发现内部碳化硅晶片和铜基体的焊料部分有白色气泡。侧立时发现是使用铝线和碳化硅晶片进行连接。针对透视图中碳化硅晶片焊接部分使用CT扫描，能够清晰观察出内部气泡，并进行测量。