地质样品按照来源和分析目的，可分类为：地质科学研究样品、地质调查（包括生态地质环境调查）样品、地质勘查样品等。地质样品品种及其繁多（包括沉积物，土壤，岩石，矿物等），矿物组成千差万别，各种组分的矿物结构、赋存状态等千变万化，元素含量范围通常很宽（包括百分几十的造岩基体成分、ppm级微量元素以及ppb甚至ppt级的超痕量元素）。岩矿分析数据是各种地球科学研究成果中的重要组成部分。岩矿分析的成果，直接关系到国家矿产资源的储量计算，也是将来开采，冶炼，设计工作的重要依据。因此，研究岩矿测试分析技术具有理论意义和实际应用价值。

电子仪器和IC 芯片的接触部分多会使用金（Au）、镍（Ni）、铜（Cu）的3 层电镀。通过荧光X 射线分析，能够非破坏性地测定上述电镀的附着量（膜厚）。本文将为大家介绍不使用标准样品，使用薄膜 FP 法（基本参数法）对Au、Ni、Cu 的各镀膜进行简便定量分析的实例。

本文利用岛津三重四极杆气质联用仪GCMS-TQ8040建立了测定生活饮用水中52种SVOC的方法。在5~100?g/L浓度范围内建立标准曲线，线性关系良好，相关系数r大于0.997，各组分回收率在50~130%之间。该方法可用于生活饮用水中SVOC的快速检测。