本应用方案利用GC/MS代谢成分数据库Ver.2中的扫描及MRM方法测定人标准血清中的代谢物，并比较了测定结果。三重四极杆型GC-MS/MS的MRM在四极杆Q1和四极杆Q3进行2次MS分离，因此，较使用一个四极杆进行MS分离的扫描模式测定，可以除去由干扰成分造成的峰重叠影响，获得高灵敏度且准确的定量结果。

本文利用岛津XRF-1800波长色散X射线荧光光谱仪，采用玻璃熔片法制样，建立了测定工业硅生产用碳质材料中杂质元素的方法。碳质材料经灼烧除碳，杂质元素会富集至灰分中，称量一定量的灰分与专用熔剂按一定比例混合，高温熔融制备成玻璃片，用X荧光光谱仪进行测定。碳质材料的灰分与粘土化学成分类似，以粘土标样为基础建立工作曲线，工作曲线线性良好，相关系数r在0.9999以上，此方法可以准确测定碳质材料杂质元素化学成分，满足工业硅生产对碳质材料杂质成分的检测要求。

我们在这里描述的是一种运用离子阱（IT）/飞行时间（TOF）杂交质谱对安妥沙星代谢物进行快速鉴定的非常有效的方法。在反相C18 柱上用梯度洗脱分离得到纯化的样品，再以在线IT/TOF 扫描模式检测到安妥沙星及其代谢产物。首先，比较分子量的变化（ΔM），再以分子式预测软件计算化合物的组成成分，然后根据MSn 质谱信息及其诊断碎片离子的准确质量的变化确定生物转化位点，从而鉴定各代谢物的结构。我们运用该方法对安妥沙星的代谢物进行结构鉴定，首次在大鼠体内发现安妥沙星的六个代谢产物。